光电测试解决方案
背景概述
随着电信网络、数据中心、AI的蓬勃发展，光电通讯中光电子器件与光模块测试显得尤为重要。我们提供PXI数据采集,数据记录,以及数据处理的解决方案，协助您加速完成光电测试。
挑战：
- [复杂性]多参数调试难，需多仪器单独调试，参数关联分析复杂，效率低
- [同步性]仪器协同差，电信号与光信号同步精度低，影响数据准确性
- [低效性]单个芯片测试参数较多，人工测试花费时间较长
解决方案
应用场景
- 激光器：VCSEL，FP，DFB，DBR等
- 调制类激光器：DML 和 EML 等调制类激光器芯片和器件
- 硅光类芯片：MZM或者MRR结构的硅光芯片调制器
- 光电探测器：PD，PIN，APD，硅、锗、锗硅等探测器等光模块
光电测试解决方案Demo
方案优势
- 同步精准：PXI平台通过内部触发与同步机制，消除仪器间延迟，确保电、光信号时序精准，提升数据一致性。
- 高速并行：SMU支持1.8MS/s高采样率，结合24通道高密度设计，实现多器件并行测试，大幅缩短周期。
- 高密适配：提供12/24通道 SMU，支持晶圆级并行探测，满VCSEL、DFB等量产测试需求，降低单位成本。
- 稳定可靠：SMU 100fA高精度结合精准脉冲（mV级幅度可调、纳秒级脉宽），保障测试参数重复性，降低误差。
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