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思仪科技 6362D 光谱仪

思仪科技 6362D 光谱仪
思仪科技 6362D 光谱仪
浏览量:244
型  号:6362D
名  称:光谱仪
品  牌:思仪科技(Ceyear)
分  类:材料与结构分析 > 光谱仪
产品属性:主机
简  述:

6362D光谱分析仪是一款高分辨、大动态高速高性能光谱分析仪,适用于600nm~1700nm光谱范围的DWDM、光放大器等光系统测试;LED、FP-LD、DFB-LD、光收发器等光有源器件测试;光纤、光纤光栅等光无源器件测试。

6362D光谱分析仪(简称:光谱仪)是一款高分辨、大动态高速高性能光谱分析仪,适用于600nm~1700nm光谱范围的DWDM、光放大器等光系统测试;LED、FP-LD、DFB-LD、光收发器等光有源器件测试;光纤、光纤光栅等光无源器件测试。

 

功能特点

 

主要特点

  • 20pm最小光谱分辨率
  • 600nm~1700nm光谱扫描范围
  • 73dB大动态范围
  • -90dBm最高灵敏度
  • 支持空间光输入
  • 内置光源输出配置可选
  • 强大的多应用光谱数据分析功能
  • 12.1英寸触控显示、全中文操作

 

20pm最小分辨率

6362D光谱分析仪(光谱仪)支持不同光谱分辨率的设置,多种光谱分辨率设置灵活切换,最小光谱分辨率优于20pm。

20pm最小分辨率

 

峰值检索

6362D光谱分析仪(光谱仪)采用拥有自主知识产权的光谱自适应峰值检索算法,峰值检索准确度高,自适应性和鲁棒性强,且运算速度快。

峰值检索

 

单纵模激光光谱分析

6362D光谱分析仪(光谱仪)具备多场景光谱分析功能,针对DFB-LD等单纵模激光光源,仪器提供阈值分析和边模抑制比分析两种分析方法,有效准确的评估单纵模待测光源的中心波长、光谱带宽和边模抑制比。

单纵模激光光谱分析

 

多纵模激光光谱分析

针对FP-LD等多纵模激光光源,6362D光谱分析仪(光谱仪)提供ndB损耗分析、包络分析和均方根分析三种分析方法,多维度全面评估多纵模待测光源的中心波长和光谱带宽。

多纵模激光光谱分析
 ndB损耗法测试中心波长和光谱带宽
 ndB损耗法测试中心波长和光谱带宽

包络分析法测试中心波长和光谱带宽
包络分析法测试中心波长和光谱带宽

均方根分析法测试中心波长和光谱带宽
均方根分析法测试中心波长和光谱带宽

 

多种光电子器件应用分析功能

6362D光谱分析仪(光谱仪)可以对LED、FP-LD、DFB-LD、LD模块等各类型激光器进行一键测试与分析,实现所有测试项目批处理。

除半导体激光光源光谱测量应用外,仪器还集成了光纤偏振模色散测量应用、波分复用应用、光纤放大器应用、波分复用滤波器应用、波分复用光纤放大器应用等光谱应用功能,下图是典型的波分复用应用分析。

多种光电子器件应用分析功能

 

典型应用

 

光芯片、FP-LD、DFB-LD、光收发模块、光电系统等的光谱参数测试分析。

光芯片、FP-LD、DFB-LD、光收发模块、光电系统等的光谱参数测试分析

 

技术指标

思仪科技 6362D 光谱仪技术指标

 

订购信息

 

主机型号

编号 名称 描述
6362D 光谱分析仪 光谱范围:600nm~1700nm

 

选件型号

编号 名称 描述
6362D-H05 英文选件 配置英文前后面板、英文操作系统
6362D-H02 内置光源选件 光源类型:SLED 功率范围:≥1mW 中心波长:1550nm
6362D-H03 内置光源选件 光源类型:SLED+C2H2吸收池 功率范围:≥1mW 中心波长:1550nm
6362D-H04 接口选件 含有GPIB接口、触发输入接口、触发输出接口

 

软件型号

编号 名称 描述
6362D-S02 高精度分析软件 优化波长测量精度及动态范围测试指标 波长精度:±10pm(1520~1580nm) 动态范围:优于76dB(Typ:78dB)

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